硼酸垫底压片法在X荧光光谱分析中的应用

摘要：

目前X射线荧光光谱(XRF)是用于分析岩石样品主要元素和微量元素最常用的方法,而样品制备尤为重要.用硼酸压片法代替原有的从八十年代一直采用的铁环粉末压片法,可以提高制样效率,减少仪器分析过程中会对仪器的污染,提高了X荧光光谱仪的使用寿命,提高了分析的准确性.

关键词：硼酸垫底压片、X荧光

所属期刊栏目：32

分类号：R78;O65

在线出版日期：2012-12-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：26-27