10.3969/j.issn.1673-4076.2009.09.005
电感耦合等离子发射光谱(ICP)法测定高纯氢氧化钠中杂质含量
电解法生产的高纯氢氧化钠中,含有氧化钙、三氧化二铝和二氧化硅等杂质,其含量低微,现行国家标准中氧化钙的测定采用火焰原子吸收法;三氧化二铝和二氧化硅的测定采用分光光度法.通过试验我们发现,使用电感耦合等离子发射光谱(ICP)法测定高纯氢氧化钠中的杂质含量,是一种速度快、精度高、实用性强的检测方法.
电感耦合等离子发射光谱(ICP)、高纯氢氧化钠、原子吸收、分光光度法
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X83;TQ1
2009-12-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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