日本2002年新公布的JIS K类标准目录(上)

摘要：

@@ 1新制定标准JIS K 0134 近红外分光分析方法通则JIS K 0145 表面化学分析 X射线光电分光光谱装置 能量标度的校正

机标关键词：日本、表面化学分析、制定标准、红外分光、光谱装置、分析方法、校正、射线、能量、光电、标度

分类号：TQ1;V11

在线出版日期：2005-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：45-48