拉伸纳米掺杂三层复合PI薄膜的介电性能
对部分亚胺化的纳米Al/Si掺杂三层复合聚酰胺酸薄膜进行拉伸处理(拉伸比为:横向5%,纵向2.5%),然后经高温闭环,制得一系列不同厚度的拉伸和未拉伸三层复合PI薄膜.在相同的环境条件下测试电导电流、介电谱和耐电晕老化寿命,研究掺杂层厚度和拉伸比例对复合薄膜介电性能的影响.结果表明:对于未拉伸的薄膜,随着掺杂层厚度的增加,电老化阈值略有下降、耐电晕寿命明显的提高;在相同场强下,电导电流随着掺杂层厚度的增加而增大.对于相同厚度的薄膜,拉伸也会使电导电流增大、电老化阈值略有减小,拉伸也使得耐电晕寿命明显的提高.在本实验范围内,拉伸对复合薄膜介电性能的影响,类似于增加掺杂层厚度的作用.
拉伸、聚酰亚胺薄膜、介电性能、耐电晕
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TM215.3(电工材料)
国家自然科学基金50373008,51277044
2015-10-28(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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