基于CPLD的微型继电器时间参数测试电路设计

摘要：

为了便于技术人员对继电器进行筛选,本文提出了一种基于单片CPLD的微型电磁继电器时间参数(吸合时间、释放时间、触点回跳时间)的测试方法,充分利用CPLD的资源来实现继电器多个时间参数的测量,给出了测试电路的硬件结构及各个部分的电路原理图,并通过实验进行了验证.确定其量程为0～ 99.99 ms,最小分辨率为1μs.该电路具有测量速度快、体积小、成本低和操作简单等优点.

关键词：电磁继电器、吸合时间、释放时间、触点回跳时间、CPLD

所属期刊栏目：18

分类号：TM581.3;TN930.2(电器)

在线出版日期：2014-02-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：38-41