一种双游程编码的测试数据压缩方案

摘要：

SOC芯片测试中一个主要的挑战就是处理大量的测试数据.为了减少芯片测试中的测试数据,提出了一种双游程的编码方案,采用变长到变长的编码方式对0游程和1游程进行编码.该算法在编码时同时考虑0游程和1游程,大大减少了测试数据中短游程的数量,同时文中给出了一种基于有限状态机的解压缩算法的实现方案.理论分析和实验结果证明该方案具有高压缩率、硬件实现简单等特点.

关键词：测试数据压缩、解压、双游程编码

所属期刊栏目：15

分类号：TP391.76(计算技术、计算机技术)

资助基金：黑龙江省教育厅科学技术研究项目10551Z0007

在线出版日期：2010-10-28（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：19-22