一种提高测试序列质量的方法

摘要：

针对电路测试序列质量低而导致测试费用高的问题,提出了修改扫描选择子序列提高测试序列质量的方法.通过组合测试集转化生成测试序列,研究分析组合测试集与转化测试序列的质量.通过修改测试序列的扫描选择子序列,使其能在相同的测试时间内检测更多故障,减少测试所需时间,降低测试费用.基准电路实验结果表明,应用本文方法测试序列质量明显提高,相同故障覆盖率下,所需测试时间仅为典型方法的50%.

关键词：集成电路、测试序列、测试质量、故障仿真

所属期刊栏目：14

分类号：TP206(自动化技术及设备)

资助基金：国家重点实验室基金51487020104

在线出版日期：2009-06-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：86-89,94