基于搜索状态控制的组合电路测试生成算法

摘要：

EST算法第一次提出了测试码搜索状态的概念,并采用E-前沿来描述测试码搜索的不同状态.通过引入状态等价的概念,缩小了测试码搜索空间.本文通过对搜索状态等价的研究,得出了基于搜索状态控制的测试生成算法.该方法应用E-前沿的控制关系可以减少搜索空间,大大减少了测试生成的时间.

关键词：组合电路、判定树、E-前沿、搜索状态等价、搜索状态控制、测试生成

所属期刊栏目：10

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：黑龙江省研究生创新科研项目

在线出版日期：2005-10-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：62-64