基于三值神经网络的组合电路测试生成算法

摘要：

针对集成电路的规模和复杂度不断增加而相应的测试却越来越困难问题,提出了一种基于三值神经网络的组合电路测试生成算法.该算法不需要传播,也不需要回退,而是利用三值神经网络把组合电路表示成双向的神经网络,并构造网络的能量函数,用遗传算法求解能量函数的最小值点来求得测试矢量,这样就把组合电路的测试生成问题转化为数学问题.在一些基准电路上的实验结果表明,本算法具有较高的故障覆盖率和较短的测试时间.

关键词：三值神经网络、测试生成算法、遗传算法、能量函数

所属期刊栏目：9

分类号：TN407(微电子学、集成电路（IC）)

资助基金：黑龙江省教育厅科学技术研究项目10541040

在线出版日期：2004-10-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：20-23