智能型半导体器件测试系统的抗干扰措施

摘要：

针对智能型半导体器件测试系统的主要干扰源作了详细的理论分析,并从硬件、软件两个方面介绍了一些提高整个系统可靠性的抗干扰措施.实际运行表明,这些抗干扰措施为该系统的可靠、稳定运行提供了有力的保证.

关键词：微机控制系统、抗干扰、可靠性

所属期刊栏目：21

分类号：TP202+.01(自动化技术及设备)

在线出版日期：2004-01-08（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：64-66