具有缺陷地结构的低耦合阵列天线设计

摘要：

基于缺陷地结构设计了一款低耦合阵列天线,该天线工作频率为5.8 GHz,整体尺寸为45 mm×55 mm×1.52 mm.缺陷地结构呈左右两侧带有锯齿的条状,组成2×1阵列的形式加载至接地表面.在天线阵元边到边间距为0.0502λ0的前提下,天线在5.8 GHz处的耦合度降低了28.8 dB,主瓣增益提升了0.3 dB,同时天线尺寸减小了0.57 mm,包络相关系数低于0.03,满足S11<-10 dB的工作带宽有170 MHz(5.722～5.892 GHz).结果表明该缺陷地结构可以有效地抑制沿H面放置的天线表面波传播,改善天线阵元间的互耦.

关键词：阵列天线、H面耦合、缺陷地结构、包络相关系数

所属期刊栏目：50

分类号：TN82(无线电设备、电信设备)

资助基金：国家自然科学基金;河北省自然科学基金重点项目

在线出版日期：2021-03-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共7页

页码：37-43