V-STARS摄影测量系统及其在抛物面天线测量中的应用

摘要：

抛物面天线在通讯、遥感、气象观测、天文观测等领域得到广泛的应用,抛物面天线的表面精度对微波通信和观测的效率起着关键作用,本文基于V-STARTS摄影测量软件,在天线反射面上粘贴测量标志,通过摄影来测量天线表面曲线并建立起三维模型,这种方法简化并缩短了测量过程,降低了人为误差对测量精度的影响,有效的提高天线测量的精度和效率.

关键词：天线、摄影测量、V-STARS、表面精度

所属期刊栏目：41

分类号：TP319(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2012-09-29（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：6-9