基于单片机的直流磁滞损耗测量系统设计

摘要：

为了实现快速、高效测量磁性材料直流磁滞损耗,提出了一种用V/F变换法测量磁性材料直流磁滞损耗的方法,介绍了系统的测量原理和结构,阐述了设计与实现的关键技术,重点介绍了磁滞损耗测量原理、V/F变换测磁通、单片机控制系统实现.该方案能充分满足工业现场测量的便捷、快速、抗干扰的测量要求.

关键词：直流、磁滞损耗、V/F变换、测量、单片机

所属期刊栏目：36

分类号：TM936

在线出版日期：2007-06-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：104-108