SOI光开关速度和损耗的研究

摘要：

速度和损耗是光开关的两项重要特性指标.文章在介绍SOI热光型和电光型开关工作原理的基础上,分析了波导层和埋层二氧化硅厚度、电极材料、载流子寿命以及掺杂、界面质量、模式失配度和对准性等等因素对于速度和损耗的影响,并相应的提出了一些改善方案.

关键词：光开关、SOI、速度、损耗

分类号：TN2(光电子技术、激光技术)

在线出版日期：2006-07-21（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：15-19