基于光栅测量的数控机床精度控制及故障处理

摘要：

分析了闭环伺服系统的控制特性和控制要求。对采用光栅作为检测装置的数控机床，指出了影响数控机床控制精度和加工精度的主要因素。提出了对检测反馈信号进行倍频处理，从而提高闭环伺服系统检测精度及控制精度的措施。给出了倍频处理电路和EXE信号处理电路的设计方法。针对光栅使用中可能出现的故障，给出了故障诊断及处理方法。该方法不但可以提高数控机床的控制精度，改善闭环控制系统的特性，而且可以方便地进行测量系统故障的诊断与处理。

关键词：数控机床、光栅测量、精度控制、故障处理

分类号：TG659

在线出版日期：2015-01-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：53-55