残差控制图应用中的自相关过程模型研究

摘要：

随着自动化技术的发展,数据自相关现象在现代制造业中普遍存在.基于自相关模型的残差控制图是解决自相关数据统计监控问题的一类较好方法.现有研究均假设数据呈一阶自相关,仅研究一阶自回归模型与残差控制图结合的过程监控问题.但是,实际生产中观测数据可能服从多阶自相关.基于此,针对数据多阶自相关的过程监控问题,运用蒙特卡洛仿真法,研究不同自回归阶数的自回归模型对残差控制图性能的影响.研究表明:在残差控制图应用中,过程受控时,一阶自回归模型的表现与同阶自回归模型的性能表现相当,即二者发生第一类错误的概率相差不大;而在质量偏移诊断中,一阶自回归AR(1)模型的性能表现整体优于同阶的自回归模型,大大降低了漏警的成本.

关键词：自相关、自回归模型、残差控制图

所属期刊栏目：25

分类号：O213.1(概率论与数理统计)

资助基金：国家自然科学基金;江苏省自然科学基金;教育部人文社会科学研究项目

在线出版日期：2020-09-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共8页

页码：69-76