正态过程质量控制CSP-V检验方案的重新设计

摘要：

正态过程已成为加工制造业生产和装配工序加工数据的主要分布形式.放宽连续抽样检验方案(CSP-V)在方案的制定和选择阶段,都没有考虑正态过程的稳定性特征,导致单一过程输出质量不稳定和多个并行过程输出质量不一致.提出一种面向正态过程重新设计CSP-V检验方案的新方法,称为最优CSP-V边界方案(CCSP-V).OCSP-V根据过程合格品率估计建立检验方案,利用过程合格品率估计的置信下限调整检验方案,保障单一过程和多个并行过程输出质量稳定一致.建立了边界恒等式和等值面恒等式求解方案参数.分析了OCSP-V方案的优势.为方便应用,给出三种不同质量需求下各类正态过程的OCSP-V方案.企业案例有效验证了新方案的优势.

关键词：正态过程、过程质量控制、连续抽样检验、平均检出质量

所属期刊栏目：24

分类号：TH165+.4

资助基金：国家自然科学基金71572147

在线出版日期：2019-08-02（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：1-11