超大数值孔径光刻机投影物镜波像差检测方法

摘要：

提出了一种基于空间像主成分分析的超大数值孔径光刻机投影物镜波像差检测方法.通过采用偏振光照明和矢量光刻成像模型并考虑投影物镜的偏振像差,准确表征了超大数值孔径光刻机的空间像,从而提高了像差检测模型的精度,实现了超大数值孔径光刻机投影物镜33项泽尼克像差(Z5～Z37)的高精度检测.相比于原基于空间像主成分分析的投影物镜成像差检测技术(AMAI-PCA)方法,所提方法适用于超大数值孔径光刻机投影物镜波像差检测.采用光刻仿真软件PROLITH对所提方法的检测精度进行了仿真验证,并分析了空间像采样间隔对波像差检测精度的影响.仿真结果表明,该方法对泽尼克像差(Z5～Z37)的检测精度优于0.85×10-3λ.

关键词：测量、光刻、波像差检测、超大数值孔径、空间像、主成分分析

所属期刊栏目：36

分类号：TN305.7(半导体技术)

资助基金：国家自然科学基金;国家自然科学基金;国家自然科学基金

在线出版日期：2017-06-19（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共11页

页码：129-139