掠出射X射线荧光谱仪性能评测

摘要：

通过对GaAs(100)抛光晶片在相同条件下掠出射X射线荧光实验的可重复性研究,并结合常规光源与同步辐射光源X射线掠出射荧光实验结果的对比,证明自行研制的掠出射X射线荧光平台可重复性较好,稳定性较高,实验方法的设计是合理的.理论计算与实验曲线符合的较好,证明掠出射X射线荧光实验中用单晶的全反射临界角标定掠出射角度的方法是可行的.用标准晶片掠出射X射线荧光曲线的微分评测了实际角发散度的大小.

关键词：X射线光学、掠出射X射线荧光、性能评测、GaAs晶片、全反射临界角

所属期刊栏目：26

分类号：O434(光学)

资助基金：国家自然科学基金10475091

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1435-1438