用于290～450 nm光谱测量的平场光谱仪

冯志庆李福田白兰

中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;

摘要：

介绍了以自扫描光电二极管阵列(SPD)为探测元件的平像场光谱仪.该谱仪采用车尔尼-特纳(Czerny-Turner)正交型结构,光谱分辨力为0.5 nm/pixel.介绍了使用标准直流汞灯和标准石英卤素钨灯进行波长定标和辐射定标方法.并利用该平场光谱仪对290～450 nm太阳紫外/大气光谱进行了测量,给出了测量结果.讨论了探测器的特性;为抑制温度对测量结果的影响,探测器两端侧某些像元被物理屏蔽,设置其为背景参考像元即哑元,利用哑元进行实时背景扣除方法来抑制温度漂移、暗电流、暗噪声等因素对测量精度的影响.根据仪器结构讨论了狭缝对谱线的影响,给出了狭缝宽度和谱线宽度的对应关系,并对仪器谱面上的相对测量误差进行了分析.

关键词：光谱学、辐射定标、平像场光谱仪、太阳紫外/大气光谱、自扫描光电二极管阵列、哑元

所属期刊栏目：24

分类号：TH744.1(仪器、仪表)

在线出版日期：2004-04-09（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：393-396