来自磁光阱中冷原子团的荧光干涉条纹及其应用

摘要：

实验观察到来自磁光阱中冷原子团的荧光经真空系统窗口的平板玻璃反射产生的干涉条纹.理论分析表明从从荧光干涉条纹的强度分布中可获得关于俘获原子总数以及密度分布的信息.采用该方法实测了俘获原子总数,并模拟得到了不同密度分布时条纹的对比度变化.

关键词：冷原子团、干涉条纹、密度分布

所属期刊栏目：22

分类号：O431.2(光学)

资助基金：科技部资助项目95-预-34;国家自然科学基金19834060

在线出版日期：2008-08-04（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：41-44