板上芯片集成封装发光二极管的光色检测系统

摘要：

针对板上芯片(COB)集成封装发光二极管(LED)补粉排测设备对光色参数检测的需求,研制了一套基于光纤光谱仪的LED快速光色检测系统.该系统包括光色参数检测模块、LED测试机械结构及显示模块等3个部分.光色参数检测模块主要由自制光谱仪构成,用于对测量获得的光谱数据进行计算,进而得出LED的光色参数.LED测试机械结构由积分球和可加装不同COB封装LED的夹具测试平台构成.基于该系统架构,可快速测量LED的光通量、色坐标及色温等参数.利用该设备进行了COB封装LED的快速扫描并测量了它的光色参数,期间操作者可根据实际测量结果进行相应的补粉.结果表明:在测试10颗LED时,单次测量时间少于3 s;LED色坐标准确度优于±0.003,色坐标重复性小于0.000 5,色温测试精度为0.6％@5700K,色温重复性误差小于0.000 8.测试结果满足了当前大功率COB封装IED测试系统对速度、准确性和重复性的要求.

关键词：光色检测、发光二极管(LED)、板上芯片(COB)、色坐标、色温、光通量

所属期刊栏目：24

分类号：TN312.8;TB96(半导体技术)

资助基金：浙江省科技厅公益技术应用研究项目2014C31114

在线出版日期：2016-05-24（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：39-44