椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的改进

摘要：

讨论了椭圆弯晶谱仪的波长分辨能力.在假设谱线的固有宽度可以忽略的情况下,对两种实际影响椭圆弯晶谱仪波长分辨能力的主要因素,即光源空间尺寸和非理想椭圆分光晶面进行了分析.分别对上述两种情况进行了数学建模和数值模拟仿真.定量地分析了非理想椭圆晶面和光源空间尺寸对椭圆弯晶X射线谱仪波长分辨本领的影响程度,并给出了出射狭缝宽度与椭圆弯晶谱仪波长判读加宽的关系.从理论上论证了光源空间尺寸在限制谱仪的波长分辨能力方面仍然起关键主导作用;结合椭圆分光晶体的结构参数,合理地选择出射狭缝宽度,可使谱仪达到足够好的光谱分辨率和信噪比.用搭建的实验平台进行了实验测试,结果表明,当出射狭缝宽度(2δ)为10 mm时,实测的谱线半高全宽(Δλ)为3.1×10-3 nm;2δ为4 mm时,Δλ为2.3×10-4 nm,实测结果佐证了仿真结果的正确性.

关键词：弯晶谱仪、分辨能力、狭缝宽度

所属期刊栏目：18

分类号：TH744.1(仪器、仪表)

资助基金：国家863高技术研究发展计划资助项目

在线出版日期：2010-08-14（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1303-1308