全光纤OCT量化检出早期釉质龋的研究

摘要：

目的 评价全光纤光学相干断层成像(全光纤OCT)检出早期牙釉质人工龋的敏感性.方法 在新鲜拔除的7颗离体人恒牙釉质光滑面制备2 min×3 mm实验窗,选用pH4.5的化学酸蚀液在开窗区制备0～120 h早期脱矿人工龋模型,采用自行研发的口腔全光纤OCT系统检测离体人恒牙早期牙釉质人工龋,以同一牙齿样本的显微数码摄影和偏光显微镜检测作为对照.比较和检验OCT有效检出早期龋变的敏感性和可行性.结果 全光纤口腔OCT装置可早期准确检测到脱矿12 h以内牙釉质表面组织学水平的微观改变,早于裸眼和临床显微摄影的观察结果;开窗区釉质表面完整度随脱矿作用时间出现递减变化;而釉质脱矿深度随脱矿作用时间而出现递增性变化,不同时段脱矿深度的OCT量化数据与偏光显微镜检出结果相吻合,统计学分析结果表明2者间无显著性差异(P＞0.05),证实OCT可早期、敏感、精确地检出组织学水平的早期牙釉质人工龋.结论 全光纤口腔OCT系统可无创准确检出早期牙釉质表面和表层下人工龋变,获得的龋变深度量化测量数据与偏光显微镜下组织学水平的测量结果高度相关.系统进一步完善后有望作为一种新型光学手段用于口腔临床龋病的早期诊断、量化监控以及干预效果的有效评估.

关键词：光学相干断层成像、全光纤、牙釉质龋、人工龋模型、早期检出、量化、敏感性

所属期刊栏目：32

分类号：R445;R781.1(诊断学)

资助基金：国家自然科学基金30770597

在线出版日期：2009-06-12（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：65-69,插1