新生儿低血糖病例脑损伤的多因素分析

摘要：

目的 探讨新生儿低血糖病例脑损伤的相关因素.方法 收集整理新生儿病房住院治疗的低血糖患儿病例资料,分析低血糖患儿脑损伤的发病情况,对导致脑损伤的相关因素进行分析.结果 脑损伤的发生率为54.4%,有神经系统症状的低血糖患儿脑损伤发生率明显增加;导致脑损伤的高危因素是长时间的低血糖(>12h)、伴有围产期缺氧或感染.长时间低血糖患儿脑损伤发生率及重度脑损伤发生率分别为88.2%、58.8%,明显高于短暂性低血糖者(47.7%、5.8%)(χ2=9.41,P<0.05;(χ2=32.06,P<0.01);伴有围产期缺氧或感染的患儿脑损伤发生率(77.8%、70.0%)分别高于无围产期缺氧或感染者(46.1%、44.4%),差异均有统计学意义(χ2分别为8.08、6.44,均P<0.05).结论 长时间低血糖、围产期缺氧或感染是发生低血糖脑损伤的高危因素,低血糖伴随围产期缺氧或感染会加重脑损伤.

关键词：新生儿、低血糖、脑损伤、高危因素

所属期刊栏目：21

分类号：R722(儿科学)

在线出版日期：2010-05-26（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：133-134,148