J750-PXI测试系统在射频芯片测试中的应用

摘要：

利用J750测试机台IG—xL开发环境，充分利用J750的数字信号给定和电压电流测量功能及PxI的射频信号收发功能，开发出一套适用于射频芯片量产化测试的系统。该系统具有价格低廉，测试精度高，稳定性好，测试速度快的特点。

关键词：芯片测试、J750、PXI

分类号：TN(无线电电子学、电信技术)

在线出版日期：2012-12-01（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：26-27