嵌入式存储器自修复方法研究

摘要：

对嵌入式存储器的故障单元进行测试和修复是提高存储器芯片产量和降低成本的有效方法.研究一种高效的嵌入式存储器自修复的方法,通过实验表明该修复方法具有高修复率等优点,它保证嵌入式存储器不仅可测而且可修复,极大地提高芯片的成品率.

关键词：嵌入式存储器、内建自测试、内建自修复

分类号：TP302.8(计算技术、计算机技术)

在线出版日期：2010-04-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共1页

页码：24-24