同位素注入剖面玷污井测井工艺改进

摘要：

通过对往年进行的成功率分析中得出其成功率低的原因主要是由于遇阻、玷污等多个因素造成.尝试用双释放器的替代从井口注入冷球测试工艺,对部分玷污井进行测试.改善了冷球从井口注入存在两方面弊端:一是用量大,从井口到同位素正常释放位置远远大于同位素层位,造成冷球的严重浪费.二是时间长,冷球从井口注入后,往往要等待几个小时,甚至一天的时间,加长了施工周期.该施工工艺的改进,使冷球(废同位素)直接作用于目的层段,冷球(或废同位素)能够得到最大程度的利用.同时,可将冷球(或废同位素)等待时间大大缩短.该项目的实施为部分玷污井的测试提供了一种新的工艺,在一定程度上提高了施工能力.

关键词：同位素注入剖面、玷污、双释放器冷球(废同位素)、改进

分类号：Q59

在线出版日期：2009-05-20（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共2页

页码：90-91