基于自组织映射的技术创新效率智能诊断

摘要：

在现有技术创新效率研究成果的基础上,用智能诊断方法对评价指标做进一步分析,目的是快速完成企业或组织技术创新效率在整个行业内的定位识别.针对DEA模型评价的技术创新效率指标,采用自组织映射(SOM)神经网络的方法对其进行智能诊断,仿真结果显示该方法可以有效对不同企业或组织技术创新效率进行智能诊断,从而快捷高效地为企业技术创新决策提供依据.

关键词：技术创新、创新效率、自组织映射、智能诊断

所属期刊栏目：32

分类号：F224;F273.1(经济计算、经济数学方法)

资助基金：四川省社会科学研究规划项目SC14E044

在线出版日期：2015-12-30（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：50-54