10.3969/j.issn.1000-3819.2008.03.016
具有AlGaAs缓变结构的InGaP/GaAs HBT性能改进分析
对改进型结构具有零导带势垒尖峰的缓变InGaP/AlGaAs/GaAs HBT器件的直流和高频特性进行了理论探讨,并同传统突变结构的InGaP/GaAs HBT的相应性能作了比较.结果表明:在低于30 nm的一定范围内的缓变层厚度下,与突变的InGaP/GaAs HBT相比,改进型结构的InGaP/AlGaAs/GaAs HBT具有更低的offset和开启电压、更强的电流驱动能力、更好的伏-安输出特性和高频特性.
铟镓磷/砷化镓、异质结双极晶体管、伏-安输出特性、截止频率
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TN302(半导体技术)
2008-12-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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