10.3969/j.issn.1000-3819.2002.01.006
BRAQWET能带结构和优化设计参量
对n型源区、p型势垒区和具有δ(p+)薄层势垒区的两种结构BRAQWET的能带模型,作了严格的定量分析,由此可以导出设计良好器件的优化参量.这是设计BRAQWET的理论基础.
BRAQWET、化合物半导体、光调制器、电光调制
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TN304.2+50.7(半导体技术)
国家自然科学基金6937001;德国德意志科学联合会资助项目446CHV-113/74/0
2004-01-15(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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