10.14062/j.issn.0454-5648.20220711
低介电常数陶瓷微波介电性能评价的关键问题
低介电常数(εr)微波介质陶瓷是未来毫米波移动通讯技术中的关键材料之一,其基本性能参数 εr、Qf值及谐振频率温度系数(τf)的精确评价乃是相关研究中最基础的课题之一.TE011模式平行板法及金属谐振腔法为评价微波介电性能的通用方法,但在使用时却存在一些被长期忽视的问题,其对低 εr微波介质陶瓷的研究及应用尤为重要.本综述将探讨评价低 εr微波介质陶瓷性能时在TE011谐振模式的准确识别、Qf值的测试可靠性及τf的测试可靠性等方面存在的若干关键问题,并给出相应的解决方案.
低介电常数、微波介电性能评价、平行板法、谐振腔法、测试可靠性
51
TQ174;TM28;TN929.53
国家自然科学基金;国家自然科学基金
2023-04-18(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
899-906