10.14062/j.issn.0454-5648.20200977
MgO·1.15Ga2O3陶瓷的晶体结构、振动谱及本征介电性能
合成了颗粒均匀细小的单相MgO· 1.15Ga2O3尖晶石粉体,通过无压预烧结合热等静压烧结制备出致密陶瓷.采用X射线Rietveld全谱拟合法确定其晶体结构为(Mg0.118Ga0.882)Ⅳ[Mg0.781Ga1.185□0.033]ⅥO4(□为空位),用Raman光谱与红外反射光谱研究了晶体结构、声子振动模与本征介电性能的关系.结果 表明:MgO·1.15Ga2O3陶瓷的介电常数εT=13.21,品质因子Qu×f=166 THz,且[Mg—O]多面体振动基团的声子振动模对振子强度和本征介电损耗影响较大.晶格声子振动模对本征介电损耗也有不容忽视的影响.
非化学计量镓酸镁;本征介电性能;晶体结构;红外反射谱
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TQ174.1
国家重点研发计划;国家自然科学基金
2021-11-10(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
共8页
1935-1942