用X射线衍射精确表征硅酸三钙多晶型

摘要：

在1 500℃条件下,通过掺杂质量分数为O、0.6％及1.5％的MgO制备了T1、T3及M3型硅酸三钙(C3S).使用不同分辨率的X射线衍射仪对样品进行分析.结果表明:不同晶型的C3S指纹区X射线粉末衍射特征峰存在明显差异,衍射峰的不同可以用于判定C3S晶型;当X射线衍射仪分辨率较低(仪器半高宽≥0.129°)且存在K 2时,得到的C3S衍射峰特征不明显,存在重叠现象,无法判定C3S晶型;使用高分辨率衍射仪(仪器半高宽≤0.072°),无K 2影响下,得到的衍射峰清晰,可以对C3S晶型进行精确判定.

关键词：硅酸三钙、多晶型、X射线衍射、分辨率、特征衍射峰

所属期刊栏目：42

分类号：TQ172

资助基金：国家“973”计划2009CB623100;江苏高校优势学科建设工程;长江学者和创新团队发展计划IRT1146

在线出版日期：2014-05-07（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：178-183