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Tm3+掺杂65GeS2-25Ga2S3-10CsI微晶玻璃光谱特性

引用
采用适当的热处理工艺制备了系列掺Tm3+的透明GeSr-Ga2S3-CsI硫岗微晶玻璃.测试了基质玻璃和微晶玻璃样品的密度、显微硬度、红外光谱以及在800nm激光泵浦下的近红外及中红外荧光光谱.结果表明:热处理后样品析出的晶相颗粒为Ga2S3和GeS2的混合体,晶粒尺寸限制在100nm以内;而原本掺杂在玻璃基质中的Tm3+富集在析出的Ga2S3和GeS2晶体的周围,引起了Tm3+周围环境的改变.因此,热处理后的微晶玻璃样品的近红外和中红外荧光强度增强.

铥离子、硫卤玻璃、微晶玻璃、红外发光

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TQ171.1+12

国家自然科学基金60878042和60978058;浙江省杰出青年基金R1101263;宁波市科技创新团队项目2009B21007;宁波大学王宽诚幸福基金

2011-01-11(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

2080-2084

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硅酸盐学报

0454-5648

11-2310/TQ

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2010,38(11)

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