石英晶体的条纹缺陷及其对透过率的影响

摘要：

采用正交偏光条纹检测仪观察了水热法生长的光学石英晶体中的条纹缺陷,分析了光学石英晶体中条纹缺陷产生的原因和对晶体样品的透过率的影响.结果表明:晶体中的条纹缺陷主要是由在生长过程中籽晶中缺陷的遗传和高压釜中局部生长条件变化引起的.有条纹和无条纹缺陷晶体在400～800 nm波段存在最高吸收峰,800～2 500 nm波段存在最低吸收峰.有条纹缺陷和无条纹缺陷晶体样品的透过率存在0.64%的差异.

关键词：石英晶体、条纹缺陷、透过率、籽晶、水热法

所属期刊栏目：38

分类号：O734(晶体物理)

在线出版日期：2010-04-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：192-195