10.3321/j.issn:0454-5648.2007.01.005
TiO2掺杂对ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻电学性能的影响
通过研究微米粉体、纳米粉体和纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻的电性能,发现纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻具有较低的电压梯度和漏电流,而非线性系数较高.对电性能结果的分析表明:在ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻中,晶界击穿电压不是一个固定值;漏电流中的线性分量对TiO2掺杂的ZnO压敏电阻电学性能影响很大.
氧化锌压敏电阻、纳米胶体、二氧化钛掺杂、电性能
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TQ174
2007-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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