期刊专题

10.3321/j.issn:0454-5648.2007.01.005

TiO2掺杂对ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻电学性能的影响

引用
通过研究微米粉体、纳米粉体和纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻的电性能,发现纳米胶体TiO2掺杂的ZnO压敏电阻具有较低的电压梯度和漏电流,而非线性系数较高.对电性能结果的分析表明:在ZnO-Bi2O3-TiO2低压压敏电阻中,晶界击穿电压不是一个固定值;漏电流中的线性分量对TiO2掺杂的ZnO压敏电阻电学性能影响很大.

氧化锌压敏电阻、纳米胶体、二氧化钛掺杂、电性能

35

TQ174

2007-03-19(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共5页

21-25

暂无封面信息
查看本期封面目录

硅酸盐学报

0454-5648

11-2310/TQ

35

2007,35(1)

专业内容知识聚合服务平台

国家重点研发计划“现代服务业共性关键技术研发及应用示范”重点专项“4.8专业内容知识聚合服务技术研发与创新服务示范”

国家重点研发计划资助 课题编号:2019YFB1406304
National Key R&D Program of China Grant No. 2019YFB1406304

©天津万方数据有限公司 津ICP备20003920号-1

信息网络传播视听节目许可证 许可证号:0108284

网络出版服务许可证:(总)网出证(京)字096号

违法和不良信息举报电话:4000115888    举报邮箱:problem@wanfangdata.com.cn

举报专区:https://www.12377.cn/

客服邮箱:op@wanfangdata.com.cn