XRD法测定微晶玻璃晶相含量

摘要：

利用X射线衍射技术,提出了一种无需纯晶相作标样,仅根据玻璃相散射峰的强度数据确定微晶玻璃结晶度,然后利用标准卡片上的"参比强度"值计算各晶相含量的方法.采用该方法研究了不同烧结工艺制得的2组BaO-Al2O3-SiO2系微晶玻璃中各晶相的含量.该方法与Rietveld法测得的结晶度的偏差小于3.2%,测得的各晶相含量的偏差小于2.6%.利用所获得的各晶相质量分数,根据加和法则计算得到微晶玻璃样品的密度,它们与利用Archimedes排水法测得的密度值的相对偏差小于1.8%.提出的方法简便易行,准确性满足材料研究的要求.

关键词：微晶玻璃、结晶度、X射线衍射法、Rietveld法、密度、两相模型

所属期刊栏目：33

分类号：TF77;TG171.1(炼钢)

资助基金：国家科技攻关项目2004AA32G090

在线出版日期：2006-02-23（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共6页

页码：1488-1493