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10.3321/j.issn:0454-5648.2004.05.013

高温闪烁晶体Ce:YAlO3开裂现象的分析

引用
对提拉法生长的Ce:YAlO3(简称为Ce:YAP)晶体的开裂现象进行了研究,认为引起开裂的主要内在因素是YAP晶体热膨胀系数的各向异性.研究了Ce:YAP晶体的[010],[101],[12 1]等几个主要方向在30~800℃范围内的热膨胀系数曲线.结果表明:沿[010]和[10 1]方向的膨胀系数相差最大.通过对晶体中热应力分布的计算,得出晶棱显露处为应力集中点,指出晶体容易产生开裂的方向是[010]和[10 1].通过对晶体的显微形貌观察发现,晶体中存在微裂纹.晶体的各向异性热膨胀系数,晶体生长过程中大的温度梯度以及快的降温速率等是Ce:YAP晶体产生开裂的主要原因.

掺铈铝酸钇晶体、闪烁晶体、晶体开裂、热膨胀系数、提拉法晶体生长

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O732(晶体物理)

2004-07-09(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)

共4页

599-602

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硅酸盐学报

0454-5648

11-2310/TQ

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2004,32(5)

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