正电子湮没技术用于新型硫铝酸盐基无宏观缺陷水泥的研究

摘要：

探索了正电子湮没技术(positron annihilation technique, PAT)测定硫铝酸盐基无宏观缺陷(macro-defect-free,MDF)水泥中微细孔的实验方法.结果表明:正电子湮没中等寿命成分(τ2≈330 Ps)的强度I2随水泥中微细孔(＜250 A)等的增加而有规律地增大,因此可用I2的大小来表征硫铝酸盐基MDF水泥的密实程度和结构完整性.同时,还将实验结果与水银压入法(mercury instrusion porosimeter, MIP)测试结果进行了对比.

关键词：硫铝酸盐、无宏观缺陷水泥、聚乙烯醇、正电子湮没技术、水银压入法

所属期刊栏目：32

分类号：TQ172

资助基金：国家高技术研究发展计划863计划2002AA335050

在线出版日期：2004-02-27（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共3页

页码：99-101