10.3321/j.issn:0454-5648.2001.05.004
氧化锌导电陶瓷钇掺杂效应的正电子寿命谱研究
用正电子湮没谱方法, 研究了掺杂Y2O3的ZnO导电陶瓷在不同掺杂量、不同烧结温度和烧结时间对材料结构的影响. 实验结果表明:Y2O3掺杂量增加, ZnO导电陶瓷材料完整性变差; 烧结温度增加, ZnO陶瓷产生微空洞为主的缺陷; 烧结时间增加, 微空洞缺陷数目明显增加. 本研究对正电子湮没机制与氧化锌陶瓷导电特性的关联也进行了探讨.
导电陶瓷、掺杂、正电子湮没
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O571.33(原子核物理学、高能物理学)
国家自然科学基金19874017
2004-01-08(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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412-415