THz时域光谱测试中的散射问题

摘要：

利用太赫兹时域光谱技术（THz-TDS）提取物质在太赫兹波段的吸收谱是太赫兹应用的一个重要方面。THz-TDS实验系统中的被测样片一般是多种成份的微粒与稀释剂（PE）按一定摩尔浓度混合研磨后压制而成的薄圆片。一般认为，吸收谱中出现的随频率缓慢上升的基线是源于样品颗粒对THz 波的散射。该基线对准确获取吸收谱中的特征吸收峰的峰高和峰形信息产生了影响，故为了进一步对吸收谱实现准确的定量分析，应设法移除基线，消除样品颗粒散射对吸收谱的影响，使吸收谱中的特征吸收峰更准确的体现被测物质在太赫兹频段内的吸收特性。对基线产生的原因进行了分析，对近年来出现的散射处理方法进行了综述，为了验证文献中去除散射方法的合理性，选取三种氨基酸进行实验，对比了去除散射影响前后氨基酸的摩尔浓度计算精度，结果表明，去除散射影响后部分氨基酸的摩尔浓度计算精度得到了提高，最后综合实验结果提出了THz吸收谱中去除散射影响需要进一步研究的方向。

关键词：太赫兹时域光谱、颗粒散射、吸收谱、基线

分类号：TG115.3+3(金属学与热处理)

资助基金：中央高校基本科研业务费FRF-SD-12-016A;国家自然科学基金项目61302007，60977065

在线出版日期：2014-07-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1473-1476