固体发射光谱法测定地球化学样品中的高含量锡

摘要：

介绍了一种固体发射光谱法测定地球化学样品中高含量锡的分析方法。研制了一套专用高含量锡光谱标准系列，以K2 S2 O7，NaF ，Al2 O3，碳粉为缓冲剂，Ge为内标，样品、基物、缓冲剂比例为1∶1∶2。以弱灵敏线（S n 242.1700 nm ）作为分析线，采用垂直电极法，交流电弧重叠摄谱，截取曝光，计算机定量译谱，同时扣除分析线和内标线背景。方法测定范围为：100～22350μg · g -1，检出限为：16.64μg · g -1，精密度为（RSD ， n＝12）：4.11％～6.46％。测定了国家一级标准物质，结果与认定值符合。本方法可不用稀释直接测定地球化学样品中的高含量锡，提高了固体发射光谱法测定锡的检出上限，具有一定的实用价值。

关键词：固体发射光谱法、地球化学样品、高含量锡

分类号：O657.3(分析化学)

资助基金：国土资源部公益性行业科研专项经费项目201211081;中国地质调查局地质矿产调查评价项目1212011120278

在线出版日期：2013-11-13（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：3124-3127