10.3964/j.issn.1000-0593(2010)01-0154-05
一种新型光谱表面等离子体共振二维探测方法在DNA微阵列中的应用
在此前曾提出过一种新型二维折射率探测方法--并行扫描光谱表面等离子体共振(surface plas-mon resonance,SPR)成像方法.在这种方法中,使用线形光照明,CCD得到的图像包含SPR光谱信息和一维窄间信息,进而通过计算可得到折射率的一维分布信息.通过一维扫描,就能够得到整个被扫描区域内的折射率二维分布信息.该方法具有高灵敏、高通量的优点,适合微阵列(microarray)的检测.并完善了这种方法的数据处理过程,使用空气折射率作为参考,消除了无法精确控制入射角的难题.使用该方法对手工点制的军团菌mip DNA探针微阵列进行了检测,证明了这种方法高灵敏无标记地探测微阵列的可行性.我们得到的军团菌mip DNA探针制备浓度与其等效折射率的关系,这对基于SPR的微阵列技术的发展有着重要的参考意义.
SPR、光谱、成像、微阵列、生物芯片
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O436(光学)
国家自然科学基金项目30770592,60608019;国家"863"项目2006AA06Z402
2010-03-29(万方平台首次上网日期,不代表论文的发表时间)
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