超光谱成像探测系统的图谱标定和评估

摘要：

超光谱成像是一种场景图谱合一的技术,在战场侦察中得到了迅速应用.超光谱成像系统的标定是确定其输出准确数值的过程.分析了一种基于背照减薄CCD和凹面光栅成像光谱部件的UV/Vis/NIR超光谱军用探测系统,其光谱分辨力为3.3 nm;探讨了0.25～1.1 μm工作波段内超光谱成像系统的标定和评估方法,详细介绍了以带有测试靶均匀辐射源为对象的空间成像质量评估、以激光和Hg灯为基础的光谱质量评估以及利用高精度标准辐射源的辐射性能标定.在经过多步辐射校正和光谱真实性检测验证后,最终获得的景物反射率光谱曲线真实反映了光谱特性,满足了0.2 mrad的空间分辨力和±0.5%色散线性率的精度要求并在军用探测系统中进行了反伪装的成功应用.

关键词：超光谱成像、探测系统、图谱标定

所属期刊栏目：27

分类号：TN223(光电子技术、激光技术)

资助基金：国家电子技术支撑项目E0202051

在线出版日期：2007-12-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1676-1679