粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用

摘要：

应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线.经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024％,尾矿偏差小于±0.004％,精矿偏差不大于±0.127％；相对标准偏差(n=9)≤1.76％.大量实验数据表明,粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定流程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控.

关键词：原矿、尾矿、精矿、铜、X荧光光谱法、压片制样

所属期刊栏目：30

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2013-04-17（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：141-144