X射线荧光光谱法测定加氢裂化催化剂中的钨和镍

摘要：

介绍了X射线荧光光谱法测定加氢裂化催化剂中金属W和Ni含量的分析方法.考查了污染元素对W、Ni元素测定的影响,以氧化铝为载体配制标准样品,使标准样品与样品的基体基本一致,减少了基体效应的影响.待测元素的线性范围分别为:Ni 0.5％-5％；W 10％-30％,相关系数均为0.9999,测定结果的相对标准偏差小于1％.该方法的测定结果与原子吸收光谱法的测定结果相吻合.

关键词：X射线荧光光谱法、加氢裂化催化剂、钨、镍

所属期刊栏目：29

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2012-10-31（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共5页

页码：2568-2572