熔融制样-X射线荧光光谱法测定重晶石中的主要组分

摘要：

采用熔融片制样法,X射线荧光光谱仪(XRF)同时测定防辐射用重晶石中氧化钡和二氧化硅等主次组分的含量,用基本参数法校正基体效应,并进行了方法的精密度和准确度试验,各组分相对标准偏差RSD(n=10)均小于6.0%.用标准物质进行验证,测量值与之基本一致.

关键词：X射线荧光光谱法、重晶石、熔融片

所属期刊栏目：28

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2011-09-05（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1311-1314