X射线荧光光谱法测定氧化铁皮中的硅和钙

摘要：

采用偏硼酸锂和四硼酸锂混合熔剂熔融法制样,波长色散X射线荧光光谱法同时测定了氧化铁皮中的SiO2和CaO.考察了熔剂、脱模剂等对熔片的影响.用本方法测定氧化铁皮试样中SiO2和CaO的相对标准偏差分别为0.4%和0.6%,分析结果与其他方法测定值一致.与化学法相比,该方法快速、简便、精密度好和准确度高.

关键词：X射线荧光光谱法、混合熔剂、氧化铁皮

所属期刊栏目：27

分类号：O657.34(分析化学)

资助基金：广西科技厅自然基金项目0991295

在线出版日期：2010-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1659-1662