X荧光光谱法分析硅质-半硅质耐火材料的主次元素含量

摘要：

介绍了玻璃熔片XRF测定硅质-半硅质耐火材料中SiO2、Al2O3、Fe2O3、TiO2、CaO、MgO、K2O、Na2O等常见组分的定量分析.确定了该分析方法所适用的测定范围,并对标样的制备、试验条件的选择和分析结果做出了详细描述.

关键词：玻璃熔片、X射线荧光光谱法、硅质-半硅质耐火材料

所属期刊栏目：27

分类号：O657.34(分析化学)

在线出版日期：2010-09-16（万方平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

页数：共4页

页码：1565-1568